方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪

商品名称：方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪
商品型号：DP-WSP-51

方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪型号：DP-WSP-51

DP-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！

仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。

三、基本技术参数

1. 测量范围、分辨率

电阻： 1.0×10^-2～ 2000Ω, 分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10Ω

电阻率： 1.0×10^-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10^-2～ 0.1 Ω-cm

方块电阻： 1.0×10^-3～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10^-1～ 0.1×10 Ω/□

2. 可测半导体材料尺寸（手持式）

直径：测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度：测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.

3. 量程划分及误差等级

量程	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0
量程	kΩ-cm/□	Ω-cm/□			mΩ-cm/□
基本误差	±1%FSB±2LSB				±1.5%FSB ±4LSB

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净重：≤0.5kg

网址：www.51298264.com/

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